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  DYTRAN帶 TEDS 的通用加速度計3312A2T型 2021-07-22 16:55:35

  DYTRAN ?3312A2T是一款獨特的IEPE壓電加速度計，具有超低頻響應和穩(wěn)健的低剖面設計。DYTRAN 3312A2T僅測量073英寸（184毫米）高，并提供01至4000赫茲的頻率響應。該設備包含一個陶瓷剪切傳感元件，封裝在一個25克的密封鈦外殼中，包括一個10-32徑向連接器和一個10-32安裝孔。DYTRAN 3312A2T的靈敏度為100 mV/g，通過結合TEDS功能，可用于具有更多通道的應用中。

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  New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過去的數年里，SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發(fā)電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長（900m-1700nm）成像設備主要用于透視硅內部。